布魯克X射線衍射系統
D8 DISCOVER with Davanci Design
布魯克公司D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領域的先進X射線衍射系統。配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以方便的在材料研究領域的不同應用之間切換，包括：反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應力和織構分析。
布魯克 D8 D8 ADVANCE X射線衍射儀
布魯克AXS公司D8 ADVANCE X射線衍射儀，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓光路互換、重新對光等問題成為過去
主要應用
高分辨XRD(HRXRD)
外延多層膜厚度
晶胞參數
晶格錯配
組份
應變及弛豫過程
橫向結構
鑲嵌度
X射線反射率(XRR)
薄膜厚度
組份
粗造度
密度
孔隙度
倒易空間圖譜(RSM)
晶胞參數
晶格錯配
組份
取向
弛豫
橫向結構
面內掠入射衍射 (in-plane GID)
掠入射小角X射線散射(GISAXS)
晶胞參數
晶格錯配
橫向關聯性
取向
物相組成
孔隙度
應力和織構分析
取向分布
取向定量
應變
外延關聯
硬度
物相鑒定(Phase ID)
物相組成
d值確定
擇優取向
晶格對稱性
晶粒大小
