Avio? 220 系統(tǒng)能處理未經(jīng)稀釋的高基體樣品，為ICP 帶來(lái)新的性能及靈活性。 而硬件特性與直觀易用的軟件相結(jié)合，使多元素測(cè)量變得與單元素分析一樣簡(jiǎn)單。
Avio 220 可通過(guò)以下性能，提供高效的操作、可靠的數(shù)據(jù)和低的擁有成本：
l ICP 中低的氬氣消耗
l 快的 ICP 啟動(dòng)（從關(guān)機(jī)狀態(tài)啟動(dòng)，光譜儀在短短幾分鐘內(nèi)即可準(zhǔn)備就緒）
l 對(duì)所有適用的元素都具有靈敏度與分辨率
l 具有雙向觀測(cè)技術(shù)的寬線性范圍
雙向觀測(cè)功能
Avio 220 系統(tǒng)獲得的雙向觀測(cè)功能。即使是波長(zhǎng)大于 500 納米或低于 200 納米的元素也完全可以測(cè)量，即便是在 ppb 的含量水平。該 Avio 系統(tǒng)的雙向觀測(cè)設(shè)計(jì)也提供了可擴(kuò)展的線性動(dòng)態(tài)范圍。
可簡(jiǎn)化您的開發(fā)方法，同時(shí)借助 Avio 220 系統(tǒng)的 PlasmaCam?技術(shù)，便利遠(yuǎn)程監(jiān)控等離子體。
PlasmaShear 系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)無(wú)氬干擾消除
為了消除軸向觀測(cè)的干擾，需要消除等離子體的冷尾焰。
常規(guī)ICP消除尾焰需要消耗高達(dá) 4 升/分鐘的氬氣流量，Avio系統(tǒng)的 PlasmaShear? 技術(shù)只需空氣即可。無(wú)需高維護(hù)、高提取系統(tǒng)或錐體。就是一個(gè)集成的、自動(dòng)化的、能提供軸向分析的干擾消除系統(tǒng)。
CCD 檢測(cè)器，可實(shí)現(xiàn)重現(xiàn)性和精密度
借助全波長(zhǎng)功能，Avio 220 系統(tǒng)的強(qiáng)大電荷耦合器件（CCD）檢測(cè)器。
CCD 檢測(cè)器可同時(shí)測(cè)量所選譜線及其譜線附近波長(zhǎng)范圍，實(shí)時(shí)扣背景，實(shí)現(xiàn)檢測(cè)精密度。在分析過(guò)程中，它還可以同時(shí)執(zhí)行背景校正測(cè)量，進(jìn)一步提高準(zhǔn)確度和靈敏度。
帶有轉(zhuǎn)換炬管底座的垂直等離子體，可實(shí)現(xiàn)基體靈活性
即使 ICP 正在運(yùn)行，Avio 220 系統(tǒng)的垂直炬管無(wú)需工具也能進(jìn)行簡(jiǎn)便快捷的調(diào)節(jié)，可提供更大的樣品靈活性并簡(jiǎn)化維護(hù)。
